1. CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies :process-aware SRAM design and test
پدیدآورنده : Pavlov, Andrei
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Design ، Metal oxide semiconductors, Complementary,، Random access memory,، Nanoelectronics
رده :
TK
7871
.
99
.
M44P38
2008